二氧化硅4站式比表面積儀
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發(fā)布時(shí)間:2010-11-4 13:02:27
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產(chǎn)品詳情:
金埃譜科技是國(guó)內(nèi)*早參與比表面積標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)研制及標(biāo)定的機(jī)構(gòu),測(cè)試結(jié)果與國(guó)外數(shù)據(jù)可比性平行性*好,并獲取權(quán)威認(rèn)證機(jī)構(gòu)的檢測(cè)證書(shū),同時(shí)金埃譜科技也是國(guó)內(nèi)同行業(yè)中注冊(cè)資本規(guī)模*大,*通過(guò)ISO9001認(rèn)證的企業(yè),雄厚實(shí)力和完善的質(zhì)量及服務(wù)體系,讓您選購(gòu)的產(chǎn)品無(wú)后顧之憂!
全自動(dòng)靜態(tài)法4站式比表面積儀技術(shù)參數(shù)
測(cè)試方法及功能:氮吸附真空容量法(真空靜態(tài)法),吸附及脫附等溫線測(cè)定BET法比表面積測(cè)定(單點(diǎn)及多點(diǎn)),Langmuir法比表面積測(cè)定,平均粒徑估算,樣品真密度測(cè)定, t-plot圖法外比表面積測(cè)定
測(cè)定范圍:0.01(m2/g)--至無(wú)上限(比表面積)
測(cè)量精度:重復(fù)性誤差小于1.5%
真空系統(tǒng):V-Sorb*的集裝式管路及電磁閥控制系統(tǒng),大大減小管路死體積空間,提高檢測(cè)吸附氣體微量變化的靈敏度,從而提高比表面積測(cè)試的分辨率;同時(shí)集裝式管路減少了連接點(diǎn),大大提高密封性和儀器使用壽命
液位控制:V-Sorb*的液氮面控制系統(tǒng),確保測(cè)試全程液氮面相對(duì)樣品管位置保持不變,徹底消除因死體積變化引入的測(cè)量誤差
控制系統(tǒng):采用可編程控制器電磁閥控制系統(tǒng),高集成度和抗干擾能力,提高儀器穩(wěn)定性和使用壽命
樣品數(shù)量:同時(shí)進(jìn)行4個(gè)樣品分析和4個(gè)樣品脫氣處理,樣品測(cè)試系統(tǒng)和樣品處理系統(tǒng)相互獨(dú)立,并且樣品測(cè)試和樣品脫氣處理可以同時(shí)進(jìn)行,避免了測(cè)試管路受到污染,從而進(jìn)一步確保測(cè)試的精度和提高儀器使用壽命
壓力測(cè)量:采用原裝進(jìn)口壓力傳感器測(cè)量壓力,顯著提高低 P/Po點(diǎn)下測(cè)試精度,2支0-1000 Torr(0-133Kpa),壓力傳感器必須提供進(jìn)口檢測(cè)證書(shū)
壓力精度:進(jìn)口硅薄膜壓力傳感器,精度達(dá)實(shí)際讀數(shù)的0.15%,優(yōu)于全量程的0.15%,遠(yuǎn)高于皮拉尼電阻真空計(jì)精度(一般誤差為10%-15%)
分壓范圍:P/Po 準(zhǔn)確可控范圍達(dá)5x10-6-0.995
極限真空:4x10-2Pa (3x10-4Torr)
樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等
測(cè)試氣體:高純N2氣(99.999%)或其它(按需選擇如Ar,Kr)
數(shù)據(jù)采集:高精度及高集成度數(shù)據(jù)采集模塊,誤差小,抗干擾能力強(qiáng)
數(shù)據(jù)處理:Windows兼容數(shù)據(jù)處理軟件,功能完善,操作簡(jiǎn)單,多種模式數(shù)據(jù)分析,圖形化數(shù)據(jù)分析結(jié)果報(bào)表