X射線熒光光譜儀EDX4500H檢測固體/粉末中化學元素含量
粉末壓片法

固體礦石、砂巖或金屬粉末類產品含量一直采用滴定、比色等原始的化學分析方法進行測定，分析方法繁瑣，人為影響因素大，且勞動強度大，分析周期長，越來越不能夠滿足企業(yè)的實際測試需求，現(xiàn)推薦X射線熒光光譜法測定其中的化學元素含量，操作方法簡單，排除了人為誤差，節(jié)省了測試時間，提高工作效率，分析歩奏如下：
1.將樣品研磨至200目（研磨機）。
2.放入壓片機壓成餅，壓力在40t，保壓時間30s（壓片機）。
3.卸壓后取出樣片，吹去表面雜質后待測。
4.將樣品放入儀器測試窗，電腦上點擊開始檢測，時間60-300S可調。
5.測試完成后自動生成報告，可存為電子檔或打印。

所需設備：
1.X射線熒光光譜儀EDX4500H
2.研磨機
3.壓片機

X射線熒光光譜儀EDX4500H 技術協(xié)議

一.技術指標：
1.1分析元素范圍：Na-U
1.2測量精度：0.05%（含量大于96%的樣品）
1.3元素測量范圍：PPM級-99.99%
1.4 高壓：5kV-50kV
1.5 管流：50μA-1000μA
1.6 能量分辨率：145±5eV
1.7 RoHS指令有害元素檢測限Cd/Pb/Cr/Hg/Br*低達2ppm（因基體不同檢出限可能存在一定差異）。
1.8 測量時間：60s-300s
1.9 計數(shù)率：計數(shù)率可高至100000cps
二.工作環(huán)境要求：
2.1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃
2.2 環(huán)境相對濕度：<70%
2.3 工作電源：交流220±5V
2.4 周圍不能有強電磁干擾。


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